產(chǎn)品展示
概述
TBPS01近場探頭由TH20,H10,H5和E5是磁場(H)和電場(E)探頭,用于輻射發(fā)射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。它們用于在電子組件的構(gòu)造塊中定位和識別潛在的干擾源。這些探針的作用類似于寬帶天線,用于拾取組件,PCB跡線,外殼開口或縫隙以及可能發(fā)射射頻的任何其他部件的輻射。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發(fā)出電磁輻射的位置。通過更換為較小尺寸的探頭,可以進一步縮小發(fā)射源的范圍。其他應(yīng)用是通過將RF信號饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進行RF抗擾度測試:此外,探頭可用于維修或調(diào)試領(lǐng)域,以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題。信號電平。另一種應(yīng)用是對射頻構(gòu)件(例如調(diào)制器或振蕩器)的無創(chuàng)測量。頻率,相位噪聲和頻譜分量可以與低噪聲前置放大器一起測量。
應(yīng)用:
EMI輻射預測/整改
探頭尺寸:
探頭 | 尺寸 | 環(huán)尺寸 | 環(huán)長 |
H20 磁場探頭 | 170mm | 20 mm | N.A. |
H10 磁場探頭 | 170mm | 10 mm | N.A. |
H5 磁場探頭 | 170mm | 5 mm | N.A. |
E5 電場探頭 | 170mm | N.A. | 5 mm |
頻率響應(yīng):
耦合衰減: